用途广泛，投资低廉

 

O-INSPECT复合式测量机集光学式与接触式测量技术于一身，因此可用于众多部件的测量和分析。无需增加各种专用设备，O-INSPECT一机即可胜任。

 

光学 – 接触式扫描
O-INSPECT整合了蔡司接触式扫描和光学测量技术。取代了传统三坐标测量机、万工显、轮廓仪、影像仪等检测仪器。测量工作因它而变得如此简单。

 

重要特征

• 完备的CNC光学非接触、接触扫描坐标测量机

• 占用空间小，可以从三面装载，无需压缩气源，易于安装

• 标配12倍光学自动变焦镜头Discovery V12和接触式扫描测头 VASTxxt

• 16象限表面环形光，8象限微形环形光，同轴光照明系统，激光定位导航及底光照明系统

• 完全内置式导轨，环境油污、灰尘不影响设备正常运行

• 零膨胀系数玻璃陶瓷材料光栅尺，受环境温度影响较小

• 新型双手柄标准控制面板，在LCD上显示坐标和探针

• 基于CAD测量软件Calypso，具有可视化测量功能

• 高精度动态C99控制柜

• 支持0.3mm直径测针

• 实用的探针更换架

• 高效减震系统

 

选项

• 第四轴精密联动转台，专业测量回转体类产品（如齿轮）

• Gear Pro专业齿轮测量软件

• 高精度非接触白光测距测头

 

尺寸&精度

O-Inspect	测量范围 X× Y× Z[mm]
	300 x 200 x 200  ~  400 x 400 x 200
	工作环境温度：18~22℃
	光学精度(μm): 1.6 + L/200*起
	长度测量误差(μm): 1.6 + L/200*起
* - L = 测量长度以mm为单位

 

- 根据设备规格、所配探头及使用环境，精度有所不同

传感器系统

• 蔡司XXT扫描测头支持30~125mm长度测针，侧边40mm测针

• 蔡司Discovery V12测头 × 0.5 ~ × 6 倍放大，分辨率1388x1038

• 蔡司白光测距测头CWS工作距离61mm，分辨率0.07 μm

 

 

应用 小型零件、薄壁零件、光学零部件、电子零部件、插头插座、钟表零部件